ATR 法不僅用于驗證分析，還廣泛用于異物分析。對ATR 法掃描獲取的光譜和用透射法掃描獲取的光譜進行比較可以發(fā)現(xiàn)，

因為原理不同，縱軸及橫軸的數(shù)值有一定差別。所以，將ATR 法的光譜與透射法的光譜或數(shù)據(jù)庫進行比較時，通過對ATR 光譜進行適當?shù)男Ｕ?，可取得更高精度的結果。本文向您介紹通過高級ATR 校正，對ATR 光譜和透射光譜進行近似處理的示例

進行樣品的紅外光譜掃描時，采用透射法需要調整樣品的厚度與濃度，以防吸收飽和。采用ATR 法時，需要使樣品緊貼晶體。由此可從樣品表面獲取穿透深度為數(shù)μm 的紅外光譜，所以無需進行優(yōu)化。但是，用ATR 法獲取的光譜，在整個波數(shù)范圍中紅外光的穿透深度（dp）不穩(wěn)定。所以，比較ATR 光譜和透射光譜時，ATR 方法中波數(shù)越低穿透深度越深，所得到的峰強度也越大。計算紅外光穿透深度的公式如下

高級ATR 校正

啟用島津高級ATR 校正功能，可對上述縱軸和橫軸變化進行校正。該校正可同時進行以下3 種校正：

1. 受波長影響的紅外光穿透深度帶來的峰強度變化。

2. 由折射率的異常分散引起的低波數(shù)峰偏移。

3. 由偏光特性引起的來自朗伯-比爾定律的偏差。

聚碳酸酯的ATR 光譜：

圖1 為通過ATR 法和透射法分別獲取的聚碳酸酯（PC）紅外光譜，表1 為測定條件。為了方便比較ATR 光譜和透射光譜，對

強度進行了校正，使1190 cm-1 附近的吸光度一致。

由圖1 可知，通過這兩種方法進行測定，分別獲取的峰強度和峰位置有很大差異。 對圖1 的ATR 光譜（紅線），校正紅外光的穿透深度引起的縱軸校正（ATR 縱軸校正）結果和透射光譜的重疊部分顯示在圖2中。由此可知，僅通過ATR 縱軸校正無法使ATR 光譜與透射光譜相似。

對檢索結果的影響：我們使用透射法創(chuàng)建的數(shù)據(jù)庫，對檢索ATR 光譜的命中的影響進行了調查。圖4 為未校正ATR 光譜的檢索結果，圖5 為ATR軸校正后的檢索結果，圖6 為高級ATR 校正后的檢索結果。 由圖可知，按照無校正、ATR 縱軸校正、高級ATR 校正的順序，命中分別為844 件、858 件、957 件，呈上升趨勢。

綜上所述，經(jīng)高級ATR 校正可使ATR光譜與透射光譜相似。并且，如果通過透射法數(shù)據(jù)庫檢索ATR 譜圖，可獲取高精度的檢索結果