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產(chǎn)品詳情
產(chǎn)品概述:
本設(shè)備適用于考核各種產(chǎn)品或材料及家用電器、儀器、儀表、元器件等電工電子、汽車、摩托車產(chǎn)品,在高溫、低溫、潮濕環(huán)境條件下的適應(yīng)性試驗(yàn),可供各種科研機(jī)構(gòu)及廠礦中心試驗(yàn)室做可靠性試驗(yàn)。
恒溫恒濕試驗(yàn)箱主要技術(shù)參數(shù):
1、型 號:HJW/HS-500
2、工作室尺寸:700×800×900 (深×寬×高)mm
3、外形 尺寸:1160×1250×2000 (深×寬×高)mm
4、溫度范圍:0℃~+150℃
5、濕度范圍:20~98%RH
6、溫度均勻度:±2℃
7、控制 精度:0.5℃
8、濕度均勻度:+2/-3%RH
9、降溫速率:0.7~1℃/min(非線性,空載)
10、升溫速率:2~3℃/min(非線性,空載)
11、電源:AC380V/50Hz
12、總功率:5KW

設(shè)備安裝及環(huán)境條件:
1、室溫:≤+25℃
2、相對濕度:不大于85%R·H
3、大氣壓:86~106kPa
4、周圍無強(qiáng)烈振動
5、無陽光直接照射或其他熱源直接輻射
6、周圍無強(qiáng)烈氣流,當(dāng)周圍空氣需強(qiáng)烈流動時(shí),氣流不應(yīng)直接吹到箱體上
7、周圍無強(qiáng)電磁場影響
8、周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
驗(yàn)收及執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
本設(shè)備滿足:
1、 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn):國家相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求或雙方簽訂《技術(shù)參數(shù)協(xié)議書》
2、GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3、GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
4、GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
5、GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
6、GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試 驗(yàn)設(shè)備
7、GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
8、GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
9、GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
10、GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
11、GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
12、GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
13、GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
產(chǎn)品概述:
本設(shè)備適用于考核各種產(chǎn)品或材料及家用電器、儀器、儀表、元器件等電工電子、汽車、摩托車產(chǎn)品,在高溫、低溫、潮濕環(huán)境條件下的適應(yīng)性試驗(yàn),可供各種科研機(jī)構(gòu)及廠礦中心試驗(yàn)室做可靠性試驗(yàn)。
恒溫恒濕試驗(yàn)箱主要技術(shù)參數(shù):
1、型 號:HJW/HS-500
2、工作室尺寸:700×800×900 (深×寬×高)mm
3、外形 尺寸:1160×1250×2000 (深×寬×高)mm
4、溫度范圍:0℃~+150℃
5、濕度范圍:20~98%RH
6、溫度均勻度:±2℃
7、控制 精度:0.5℃
8、濕度均勻度:+2/-3%RH
9、降溫速率:0.7~1℃/min(非線性,空載)
10、升溫速率:2~3℃/min(非線性,空載)
11、電源:AC380V/50Hz
12、總功率:5KW
設(shè)備安裝及環(huán)境條件:
1、室溫:≤+25℃
2、相對濕度:不大于85%R·H
3、大氣壓:86~106kPa
4、周圍無強(qiáng)烈振動
5、無陽光直接照射或其他熱源直接輻射
6、周圍無強(qiáng)烈氣流,當(dāng)周圍空氣需強(qiáng)烈流動時(shí),氣流不應(yīng)直接吹到箱體上
7、周圍無強(qiáng)電磁場影響
8、周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
驗(yàn)收及執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
本設(shè)備滿足:
1、 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn):國家相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求或雙方簽訂《技術(shù)參數(shù)協(xié)議書》
2、GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3、GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
4、GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
5、GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
6、GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試 驗(yàn)設(shè)備
7、GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
8、GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
9、GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
10、GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
11、GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
12、GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
13、GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
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