生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

大型高低溫試驗(yàn)設(shè)備  半導(dǎo)體制造溫度評(píng)估

應(yīng)用領(lǐng)域

設(shè)備深度服務(wù)于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈的各個(gè)環(huán)節(jié)：

• 前道工藝：硅片、光刻膠等材料的熱穩(wěn)定性測(cè)試。

• 后道封裝：BGA、CSP、SiP封裝的溫度循環(huán)（TMCL）與高溫存儲(chǔ)（HTSL）試驗(yàn)。

• 器件測(cè)試：CPU、GPU、存儲(chǔ)器、功率器件（如IGBT、SiC）的高低溫性能與可靠性驗(yàn)證。

• 終端應(yīng)用：服務(wù)器、汽車電子、航空航天用半導(dǎo)體模塊的環(huán)境適應(yīng)性篩選。

大型高低溫試驗(yàn)設(shè)備  半導(dǎo)體制造溫度評(píng)估

產(chǎn)品特點(diǎn)

針對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試的高標(biāo)準(zhǔn)、高潔凈度要求，設(shè)備具備以下核心特點(diǎn)：

1. 潔凈：內(nèi)腔采用高級(jí)別不銹鋼，密封件選用低析出材料，確保在高溫下無揮發(fā)性污染物，保護(hù)敏感器件。

2. 超精準(zhǔn)控溫：采用多段式PID與算法，實(shí)現(xiàn)優(yōu)于±0.3℃的溫度波動(dòng)度，確保測(cè)試條件的一致性。

3. 超寬溫度范圍：覆蓋-80℃至+200℃甚至更高，滿足第三代半導(dǎo)體等寬禁帶材料的高溫測(cè)試需求。

4. 高效熱交換：針對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試樣品熱容小、密度高的特點(diǎn)，優(yōu)化氣流設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)快速溫度穩(wěn)定。

5. 靜電防護(hù)（ESD）：可選配接地的樣品架與傳輸機(jī)構(gòu)，防止靜電損傷精密芯片。

主要用途

• 加速壽命測(cè)試：通過施加高低溫循環(huán)應(yīng)力，加速暴露半導(dǎo)體器件的早期失效。

• 特性參數(shù)評(píng)估：測(cè)量器件在不同溫度下的電學(xué)參數(shù)（如閾值電壓、漏電流）漂移。

• 封裝結(jié)構(gòu)驗(yàn)證：評(píng)估封裝材料（模塑料、底部填充膠）與界面的熱機(jī)械可靠性。

• 工藝窗口確認(rèn)：驗(yàn)證制造與封裝工藝對(duì)溫度環(huán)境的耐受邊界。

技術(shù)參數(shù)

• 溫度范圍：-85℃ ~ +220℃（可定制）

• 溫度均勻度：≤ ±1.5℃（按SEMI標(biāo)準(zhǔn)評(píng)估）

• 溫度偏差：≤ ±0.5℃（設(shè)定值 vs 顯示值）

• 升溫速率：平均≥ 5℃/min（空載，-55℃至+125℃）

• 降溫速率：平均≥ 4℃/min（空載，+125℃至-55℃）

• 內(nèi)箱材質(zhì)：SUS316L不銹鋼，Ra≤0.4μm鏡面拋光

• 數(shù)據(jù)采樣：支持與外部半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)（ATE）同步觸發(fā)與數(shù)據(jù)交互

產(chǎn)品結(jié)構(gòu)

1. 雙重密封腔體：內(nèi)外門獨(dú)立密封，減少熱量損失與濕氣侵入。

2. 耐高溫設(shè)計(jì)：加熱器與風(fēng)道采用特殊合金，長期承受200℃以上高溫。

3. 模塊化制冷單元：雙壓縮機(jī)復(fù)疊系統(tǒng)，確保低溫段的長期運(yùn)行穩(wěn)定性與能效。

4. 智能監(jiān)控系統(tǒng)：集成粒子計(jì)數(shù)器（選配）與壓力傳感器，實(shí)時(shí)監(jiān)控箱內(nèi)潔凈度與氣壓。

5. 安全聯(lián)鎖：測(cè)試超時(shí)、樣品短路、溫度超限等多重安全保護(hù)。

售后與服務(wù)

鑒于半導(dǎo)體生產(chǎn)的連續(xù)性要求，服務(wù)方案以零宕機(jī)為核心目標(biāo)：

• 半導(dǎo)體專項(xiàng)服務(wù)團(tuán)隊(duì)：由熟悉半導(dǎo)體工藝的工程師提供支持。

• 校準(zhǔn)與驗(yàn)證服務(wù)：提供符合SEMI、JEDEC標(biāo)準(zhǔn)的溫度分布驗(yàn)證（TUV）與系統(tǒng)精度測(cè)試（SAT）。

• 備件快速通道：關(guān)鍵部件（如控制器、傳感器）設(shè)立本地保稅庫存，實(shí)現(xiàn)72小時(shí)內(nèi)更換。

• 定期健康檢查：每半年進(jìn)行預(yù)防性維護(hù)，檢查密封性、潔凈度與系統(tǒng)性能衰減。

• 軟件與合規(guī)升級(jí)：持續(xù)更新測(cè)試程序庫與安全協(xié)議，確保符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)（如AEC-Q100）。

注意事項(xiàng)

1. 樣品裝載：需使用防靜電載具，確保芯片引腳不與金屬架直接接觸，防止短路。

2. 測(cè)試程序：嚴(yán)格遵循JEDEC JESD22等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的溫變速率與駐留時(shí)間，否則可能影響結(jié)果有效性。

3. 箱體清潔：測(cè)試前后需使用超純酒精或無塵布清潔內(nèi)腔，防止污染。

4. 斷電恢復(fù)：設(shè)備具備程序斷電續(xù)跑功能，但重新通電后需確認(rèn)程序狀態(tài)，避免測(cè)試中斷。

5. 廢氣處理：若測(cè)試含塑封料的樣品，高溫下可能釋放微量氣體，建議外接排風(fēng)。