HORIBA XGT-1000WR主要技術指標：

1、 分析元素：Si～UCd/Pb高精度型；Na～U任選：φ1.2 mm/φ0.1 mm切換方式型

2、 檢測精度：Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm

3、 檢測倉內(nèi)部尺寸：不超過460×360 mm高150 mm

4、X射線照射徑：φ1.2 mm可選：φ1.2 mm/φ0.1 mm 切換

5、 檢測器：高純硅檢測器 XEROPHY

6、 設備重量：約 265 kg不含桌子、計算機

7、 外形尺寸：分析部分：610W×750D×500Hmm 

       8、 信號處理部：220W×500D×480Hmm 

       9、可同時測量4層金屬鍍層的厚度。

                    HORIBA擁有堀場制作所擁有70多年的X射線分析技術沉淀。HORIBA XGT1000WR便是一款經(jīng)典機型。其X熒光光譜儀被廣泛推薦使用，廣泛應用于RoHS，ELV，WEEE的檢測和過程控制