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參考價(jià)	￥ 26000
訂貨量	≥1臺(tái)

產(chǎn)品詳情

芯片測試三槽式高低溫沖擊箱主要用于測試材料對*溫或極低溫的抵抗力，這種情況類似于不連續(xù)地處于高溫或低溫中的情形，冷熱沖擊試驗(yàn)?zāi)苁垢鞣N物品在短的時(shí)間內(nèi)完成測試。

熱震中產(chǎn)生的變化或物理傷害是熱脹冷縮改變或其他物理性值的改變而引起的，采用PID系統(tǒng)，各類產(chǎn)品才能獲得*之信賴。

熱震的效果包括成品裂開或破層及位移等所引起的電化學(xué)變化，PID系統(tǒng)的全數(shù)位元自動(dòng)控制，將使您操作簡易。

芯片測試三槽式高低溫沖擊箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)的測試設(shè)備，用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

型號(hào)				LQ-TS-50	LQ-TS-80	LQ-TS-150
性能參數(shù)	高溫室	溫度暴露范圍		+60～＋200℃
		預(yù)熱溫度上限		200℃
		升溫時(shí)間		+20～＋200℃約40min
	低溫室	溫度暴露范圍		0～-65℃
		預(yù)冷溫度下限		-75℃
		降溫時(shí)間		+20～-70℃約60min
	提籃	溫度范圍		-65～150℃
		溫度波動(dòng)度		≤±0.5℃
		溫度偏差		≤±2℃
	轉(zhuǎn)換時(shí)間			≤10S
	溫度回復(fù)時(shí)間			≤5min
	溫度回復(fù) 條件	LQ-TS-50	條件一	高溫暴露+150℃，低溫暴露-65℃，暴露時(shí)間30min，樣品重量5Kg鋁
			條件二	高溫暴露+70℃，低溫暴露-40℃，暴露時(shí)間30min，樣品重量12Kg鋁
		LQ-TS-80	條件一	高溫暴露+150℃，低溫暴露-65℃，暴露時(shí)間30min，樣品重量10Kg鋁
			條件二	高溫暴露+70℃，低溫暴露-40℃，暴露時(shí)間30min，樣品重量30Kg鋁
		LQ-TS-150	條件一	高溫暴露+150℃，低溫暴露-65℃，暴露時(shí)間30min，樣品重量15Kg鋁
			條件二	高溫暴露+70℃，低溫暴露-40℃，暴露時(shí)間30min，樣品重量40Kg鋁
結(jié)構(gòu)	外殼			冷軋鋼板表面噴塑或不銹鋼可選
	內(nèi)箱樣品架層架			不銹鋼板分2層
	隔熱材料			聚氨酯發(fā)泡+超細(xì)玻璃棉
制冷	制冷方式			復(fù)疊式雙級(jí)壓縮機(jī)制冷方式（水冷）
	制冷機(jī)			法國泰康或德國比澤爾壓縮機(jī)
加熱器				鎳鉻合金加熱絲式加熱器
鼓風(fēng)機(jī)				長軸離心風(fēng)機(jī)
溫度傳感				電阻Pt100
控制器/記錄裝置				PLC控制器、彩色液晶顯示觸摸屏/微型打印機(jī)
電腦接口				RS485接口、RS232轉(zhuǎn)換線、上位機(jī)操作軟件（選配）
內(nèi)箱尺寸(mm)			D×W ×H	350×360×400	400×500×400	500×600×500
裝機(jī)功率（KW）				19	23	25
電源				AC380V 50Hz三相四線制+接地線
標(biāo)準(zhǔn)配置				合格證、說明書、試驗(yàn)報(bào)告、及驗(yàn)收報(bào)告各1份、隔層架2層
滿足標(biāo)準(zhǔn)				GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；GJB 150.5A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)；