奧林巴斯BX53M IR紅外觀察顯微鏡

可對裸眼不可見的區(qū)域進(jìn)行無損的檢查和分析,以及近紅外觀察特化的顯微鏡。能對半導(dǎo)體晶片內(nèi)部和集成電路組件背面進(jìn)行無損的CPS bumps觀察

IR物鏡可用于透過硅材料成像，進(jìn)行半導(dǎo)體檢查和測量。配備了5倍到100倍紅外（IR）物鏡，提供了從可見光波長到近紅外的像差校正。對于高放大倍率的物鏡，配備了LCPLN-IR系列帶校正環(huán)的物鏡，校正由樣品厚度導(dǎo)致的像差。使用一個物鏡即可獲取清晰的圖像。

紅外顯微鏡應(yīng)用