布魯克紅外顯微鏡HYPERION 3000樣品可見光觀察
使用紅外顯微鏡對(duì)任何何樣品進(jìn)行紅外分析之前，需要先確定樣品上您感興趣的區(qū)域。但是，很多顯微樣品在可見光觀察模式下對(duì)比度不強(qiáng)，因此，為樣品特征區(qū)的選定增加了難度。HYPERION系列顯微鏡擁有多種*技術(shù)用于增強(qiáng)樣品在透射和反射模式下可見光的對(duì)比度。

為了獲取某一類樣品的優(yōu)化可視圖像，HYPERION裝配了一個(gè)鏡頭架和一系列鏡頭。通常情況下，首先使用對(duì)比虹膜技術(shù)（柯勒式孔徑）來增強(qiáng)樣品的觀察，此外，可以使用旋轉(zhuǎn)的偏振片在透射和反射模式下對(duì)雙折射樣品進(jìn)行區(qū)分；對(duì)于散射較強(qiáng)的樣品，可以使用暗場照明；對(duì)于含有熒光物質(zhì)或者熒光標(biāo)記的樣品，HYPERION也可以選擇裝配熒光照明附件。自動(dòng)聚焦功能用于觀察層狀樣品的表面。

布魯克紅外顯微鏡HYPERION 3000觀察系統(tǒng)
樣品的CCD圖像不僅可以在計(jì)算機(jī)的OPUS軟件上顯示，也可以顯示在顯微鏡前面板的LCD上（HYPERION2000/3000)。該LCD顯示屏使得定位樣品和識(shí)別待測位變得更加方便。所有的可見光圖像將與測量譜圖、以及他們的采樣位置一起被保存在一個(gè)文件中。HYPERION標(biāo)準(zhǔn)配置一個(gè)雙筒目鏡，可以提供更高質(zhì)量的可見光圖像。因此，即使樣品具有較弱的可見對(duì)比圖像，您依然可以輕松地找到待測區(qū)域。

采樣靈活性
通常情況下，對(duì)于FT-IR顯微鏡的透射分析實(shí)驗(yàn)，樣品需要被切割成5-15微米厚的薄片。如果樣品沉積在高反射率的基底上，可以采用反射模式測量。但是，有很多樣品既不透明，反射率又不高，這些樣品需要采用衰減全反射（ATR）模式測量。正因如此，ATR鏡頭的質(zhì)量和通用性對(duì)大多數(shù)應(yīng)用是至關(guān)重要的。反射表面的超薄層，甚至是單分子薄膜，可以通過掠角反射鏡頭（GAO）來獲取紅外信息。