日本*小坂KOSAKA SEF650粗糙度輪廓測定一體機

小坂KOSAKA粗糙度輪廓一體機特點：

*高精度表面粗糙度輪廓測定機一體機，一機兩用，可進行表面粗糙度和輪廓形狀測量。

*粗糙度配備有符合新ISO,DIN,ANSI,JIS標準的五十多種評價參數(shù)。

*輪廓傳感器為寬范圍，高分辨率的檢測器，提供了在同類產(chǎn)品中更*的高精度測量。

*通過簡單的一次性操作，可更換形狀、輪廓、測定裝置與表面粗糙度測量裝置，并不必對電纜重新布線。

*配有易于操作的操作桿，選定需要操作的軸，即可實現(xiàn)任何的移動。

*具有獨立明顯的緊急停止按鈕，對于傳感器及設備的保護更全面。

*遙控裝置上具有傳感器X軸及Z軸座標位置指標屏幕（與軟件畫面同步），更便于測量操作。

*配有全息光柵尺，可提高寬/窄范圍測量精度和Z軸的分辨率，增加更加穩(wěn)定的安全系數(shù)。

**的真直度保證。

*輪廓傳感器可以前、后雙向測量并進行圖型拼接解析，可在不更換測針或更改工件角度的情況下對于各種復雜位置進行測量。

小坂KOSAKA粗糙度輪廓一體機規(guī)格：

SEF650粗糙度測定

測定參數(shù)：多達五十多種，見產(chǎn)品目錄。

放大倍率：縱50-500000，橫1-5000。

測定范圍：縱1200um,橫100mm。

記錄項目：測定值，測定條件，日期時間，輸入資料（各種文字及圖形資料）。

評價長度：0.25,0.8,2.5,8,25,80mm/任意值（0.2mm以上）/λc x1，x2，x3，x4，x5。

驅(qū)動速度：0.05，0.1，0.2，0.5，1，2 mm/s，高速移動，10mm/s及手動。

切斷值（cut-off）:

粗度：λc 0.008,0.025，0.08，0.25，0.8，2.5，8 mm，R+W(JIS82無CUT-OFF)。

波紋度：fl 0.8,2.5,8,25mm,fh 0.08,0.25,0.8,2.5mm。

濾波方式：高斯（Gauss），2CR，特殊高斯。

資料點/分解能：MAX 32000點/16位元。

自動水平：MIN 二乘法，二點法，R曲面補正，二次曲線補正 。

輔助功能：自由排列組合記錄，記錄圖刻劃，平均處理，統(tǒng)計處理，中途終止，測定再演              算，檢出器登記，注解記錄，自動感度校正，mm/inch單位切換，自動測定，部分            處理，圖形放大縮小 復數(shù)段差解析，螺距測定。

檢出器上下動作：檢出器上下范圍400mm。自動停止精度±0.2um/100mm。（靴片使用時）

X軸真直度精度：0.2um/100mm。

檢出器：觸針R2um鉆石頭，測定力0.7mN。

SEF650輪廓測定

解析項目：

    排列：原點移動，回轉(zhuǎn)，反轉(zhuǎn)，移動。

    要素解析：點，線，圓，山，谷，交點，中點，接點，反轉(zhuǎn)。

    刻劃量：坐標差，距離，夾角。

放大倍率：縱橫1-200倍。

測定范圍：縱60mm，橫100mm。

綜合精度：Z：±0.25% / 全范圍，X： [±(1 + 0.02L ) um]

驅(qū)動速度：0.02，0.05,0.1,0.2,0.5,1,2mm/s。高速移動2,10mm/s及手動。

資料數(shù)：MAX大300000點。

補助機能：自由排列組合記錄，記錄圖刻劃，巨集功能，圖形放大縮小，數(shù)位圓弧補償，過負            荷防止，跳動上下，正反兩方向測定 X輸送范圍機能，數(shù)據(jù)輸出，形狀、解析            數(shù)據(jù)共CSV形式文件。

真直度精度：1um/100mm。

檢出器上下動作范圍：200mm。

檢出器：R25um,10-30mN

追隨角度：爬升77度，下坡87度。